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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-118640	立体ビデオ時間的フレーム・オフセット測定システム及び方法	2013年 6月13日
特開 2013-106356	試験測定装置の視覚的ナビゲーション装置及び試験測定装置上でプロトコル情報を視覚的にナビゲートする方法	2013年 5月30日
特開 2013-83652	試験測定装置用信号取込み装置及び入力信号デジタル化方法	2013年 5月 9日
特開 2013-68618	任意波形発生装置のチャンネル校正方法	2013年 4月18日
特開 2013-68619	任意波形発生装置のインターリーブ・チャンネル校正方法	2013年 4月18日
特開 2013-57663	試験測定装置及び時間インターリーブＲＦトリガ・アクイジション実現方法	2013年 3月28日
特開 2013-48403	デジタル・アナログ・コンバータ及びデジタル・アナログ変換方法	2013年 3月 7日
特開 2013-44747	試験測定装置及び方法並びにコンピュータ読み出し可能な媒体	2013年 3月 4日
特開 2013-36997	自己保持型ビア・プローブ、ロジック分析システム及び信号プロービング・システム	2013年 2月21日
特開 2013-36998	電子負荷装置及び電子負荷装置に可変リアクタンス負荷機能を与える方法	2013年 2月21日
特開 2013-27048	広帯域バラン構体	2013年 2月 4日
特開 2013-13090	補償されたベクトル広帯域ＲＦ信号を発生する装置	2013年 1月17日
特開 2013-5049	データ・コンバータ・システム	2013年 1月 7日
特開 2013-3144	デュアル・プロービング・チップ・システム	2013年 1月 7日

29 件中 16-29 件を表示

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2013-118640 2013-106356 2013-83652 2013-68618 2013-68619 2013-57663 2013-48403 2013-44747 2013-36997 2013-36998 2013-27048 2013-13090 2013-5049 2013-3144

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