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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-201263	Ｓパラメータを求める方法及び試験測定システム	2020年12月17日
特開 2020-201264	試験測定装置及び被試験材料特性測定方法	2020年12月17日
特開 2020-190556	試験測定システム及び被試験デバイスの試験方法	2020年11月26日
特開 2020-160069	試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置、試験測定システム及び被試験デバイスの動作モードを設定する方法	2020年10月 1日
特表 2020-527708	直流／低周波数信号成分を測定するためのシステム、装置及び方法	2020年 9月10日
特表 2020-524846	拡張現実に関連する試験測定装置、システム及び方法	2020年 8月20日
特開 2020-118685	試験測定装置及び無線バス信号捕捉方法	2020年 8月 6日
特開 2020-118689	試験測定装置及び論理値軌道セグメント検出方法	2020年 8月 6日
特開 2020-120374	信号生成装置及び広帯域アナログ信号生成方法	2020年 8月 6日
特開 2020-115124	試験測定装置及び信号抽出方法	2020年 7月30日
特開 2020-115128	試験測定装置及び波形合成方法	2020年 7月30日
特開 2020-115634	時間インターリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ・システム及び時間インターリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ校正方法	2020年 7月30日
特開 2020-112553	試験測定装置及び波形合成方法	2020年 7月27日
特開 2020-113978	信号源装置及びアナログ信号生成方法	2020年 7月27日
特開 2020-107878	多層回路基板	2020年 7月 9日

16 件中 1-15 件を表示

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2020-201263 2020-201264 2020-190556 2020-160069 2020-527708 2020-524846 2020-118685 2020-118689 2020-120374 2020-115124 2020-115128 2020-115634 2020-112553 2020-113978 2020-107878

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