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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2022-186677	試験測定システム	2022年12月15日
特開 2022-183142	通信リンク等化処理、コンピューティング装置及びイコライザ最適化方法	2022年12月 8日
特開 2022-179459	測定方法及び試験測定システム	2022年12月 2日
特開 2022-177835	試験測定システム及びビット・エラー・レートを求める方法	2022年12月 1日
特表 2022-549158	測定値とディープ・ラーニングを用いたシミュレーション修正	2022年11月24日
特開 2022-173145	試験測定装置及び波形サンプリング方法	2022年11月17日
特開 2022-171633	プローブ・チップ、３軸ケーブル及びプローブ・チップの製造方法	2022年11月11日
特開 2022-165946	試験測定システム	2022年11月 1日
特開 2022-164656	測定プローブ、測定システム及び測定プローブにおける方法	2022年10月27日
特開 2022-162978	光トランシーバのチューニング方法、試験測定装置及び機械学習システムのトレーニング方法	2022年10月25日
特開 2022-162977	試験測定システム、光トランスミッタのチューニング方法及び光トランスミッタをチューニングするための機械学習システムのトレーニング方法	2022年10月25日
特開 2022-161883	試験モニタ及び信号抽出方法	2022年10月21日
特開 2022-158741	試験測定装置及び電流測定方法	2022年10月17日
特開 2022-151843	試験測定装置を有するシステム及び試験測定装置システムにおける方法	2022年10月 7日
特開 2022-151844	試験測定装置及び試験測定装置における方法	2022年10月 7日

32 件中 1-15 件を表示

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2022-186677 2022-183142 2022-179459 2022-177835 2022-549158 2022-173145 2022-171633 2022-165946 2022-164656 2022-162978 2022-162977 2022-161883 2022-158741 2022-151843 2022-151844

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