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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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  2019年 出願公開件数ランキング    第1534位 16件 上昇2018年:第1619位 14件)

  2019年 特許取得件数ランキング    第886位 23件 下降2018年:第744位 29件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2019-208205 試験測定装置、変更画像生成方法及びコンピュータ・プログラム 2019年12月 5日
特開 2019-200209 試験プローブ・チップ及び抵抗性要素 2019年11月21日
特表 2019-532319 合成ユーザ・インタフェース 2019年11月 7日
特開 2019-174458 試験測定管理デバイス及びシステム並びに試験測定管理システムのための方法 2019年10月10日
特開 2019-152653 電気光学試験装置及びその利用方法 2019年 9月12日
特開 2019-146163 ノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法 2019年 8月29日
特開 2019-135485 試験測定装置及びこれで使用する方法 2019年 8月15日
特開 2019-101042 試験測定プローブ・カプラ及びその使用方法 2019年 6月24日
特開 2019-86519 試験プローブ及び試験プローブ・チップ 2019年 6月 6日
特開 2019-68422 ミラーリングのためのコンピュータ・プログラム及び方法 2019年 4月25日
特開 2019-39904 アイソレーション装置及び方法 2019年 3月14日
特開 2019-23627 試験測定プローブ及び試験測定プローブの校正方法 2019年 2月14日
特開 2019-17067 波形モニタ装置、ビデオ信号のモニタ方法及びコンピュータ・プログラム 2019年 1月31日
特開 2019-7959 試験測定システム及びそのための方法 2019年 1月17日
特開 2019-2910 試験プローブ・チップ 2019年 1月10日

16 件中 1-15 件を表示

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2019-208205 2019-200209 2019-532319 2019-174458 2019-152653 2019-146163 2019-135485 2019-101042 2019-86519 2019-68422 2019-39904 2019-23627 2019-17067 2019-7959 2019-2910

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