特許ランキング - 出願人詳細情報 -

テクトロニクス・インコーポレイテッド

※ ログインすれば出願人(テクトロニクス・インコーポレイテッド)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2021年出願公開件数ランキング　　　第1583位　15件（2020年：第1496位　16件）

　■　2021年特許取得件数ランキング　　　第1401位　13件（2020年：第1368位　13件）

（ランキング更新日：2026年2月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2021-179436	試験測定装置及び磁気損失測定方法	2021年11月18日
特開 2021-167815	アイソレーション差動電流シャント測定プローブ	2021年10月21日
特表 2021-527807	統合通信リンク試験	2021年10月14日
特表 2021-527215	タッチスクリーンを有する試験測定プローブ	2021年10月11日
特開 2021-148799	被試験デバイスの認識方法及び試験測定システム	2021年 9月27日
特開 2021-139900	試験測定装置及び波形表示方法	2021年 9月16日
特表 2021-518595	プロトコルの設計、評価、デバッグのための統合開発環境	2021年 8月 2日
特開 2021-89276	温度管理システム及び温度管理方法	2021年 6月10日
特開 2021-81430	試験測定装置及びエラー検出方法	2021年 5月27日
特開 2021-76590	封止された試験ポイントから信号を取得する方法及び試験測定装置を試験ポイントに電気的に接続するシステム	2021年 5月20日
特表 2021-511513	ガウス分布及び有界成分を含むランダム・タイミング・ジッタの定量化	2021年 5月 6日
特開 2021-60983	試験測定システム及びタスク同期方法	2021年 4月15日
特開 2021-56215	試験測定装置及び入力信号分析方法	2021年 4月 8日
特開 2021-47178	試験測定装置及び信号パス校正実行方法	2021年 3月25日
特開 2021-12199	試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法	2021年 2月 4日

15 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2021-179436 2021-167815 2021-527807 2021-527215 2021-148799 2021-139900 2021-518595 2021-89276 2021-81430 2021-76590 2021-511513 2021-60983 2021-56215 2021-47178 2021-12199

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。テクトロニクス・インコーポレイテッドの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数