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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-119458	試験及び計測機器及び入力信号処理方法並びにそのためのコンピュータープログラム	2014年 6月30日
特開 2014-121096	構造化されたアーチファクトの検出方法とビデオアーチファクト検出機器	2014年 6月30日
特開 2014-119455	試験測定装置、測定値表示を提供する方法及びそのためのコンピュータ・プログラム	2014年 6月30日
特開 2014-109449	信号取込みプローブ用プロービング・チップ	2014年 6月12日
特開 2014-103668	直交回路網及び直交信号生成方法	2014年 6月 5日
特開 2014-103671	ＲＦ信号源の校正方法及び振幅平坦及び位相リニアリティ校正器	2014年 6月 5日
特開 2014-103672	ＩＱ変調器のインバランスを決定する方法及びＩＱ変調器のインバランスを決定するように構築された機器	2014年 6月 5日
特開 2014-102253	組み合わせマスク・トリガ処理方法及び試験測定装置	2014年 6月 5日
特開 2014-98698	信号状態分析方法及びシステム	2014年 5月29日
特開 2014-90416	ビデオ検出器及びブラックフレーム検出方法	2014年 5月15日
特開 2014-87070	ビデオ検出器及びシーン変更検出方法	2014年 5月12日
特開 2014-87071	統合型校正装置及びランタイム校正方法	2014年 5月12日
特開 2014-87072	データログ分析器、音量データを評価するシステム、音量データを測定して報告する方法、並びに、オーディオ違反を自動的に検出方法	2014年 5月12日
特開 2014-86425	コネクタ	2014年 5月12日
特開 2014-77795	試験システム及び接続検査装置	2014年 5月 1日

49 件中 16-30 件を表示

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2014-119458 2014-121096 2014-119455 2014-109449 2014-103668 2014-103671 2014-103672 2014-102253 2014-98698 2014-90416 2014-87070 2014-87071 2014-87072 2014-86425 2014-77795

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