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株式会社アドバンテスト

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　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第163位　256件（2012年：第199位　196件）

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2013-228241	測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2013年11月 7日
特開 2013-223003	ＤＡ変換装置及びそれを用いた電子ビーム露光装置	2013年10月28日	共同出願
再表 2012-26036	半導体ウェハの試験方法及び半導体ウェハ試験装置	2013年10月28日
再表 2012-29130	ウェハトレイ、半導体ウェハ試験装置、及び半導体ウェハの試験方法	2013年10月28日
再表 2012-23180	接続装置、それを備えた半導体ウェハ試験装置、及び接続方法	2013年10月28日
特開 2013-217765	パターン測定方法及びパターン測定装置	2013年10月24日	共同出願
特開 2013-219299	半導体ウェハの試験方法、半導体ウェハ試験装置、及びウェハトレイ	2013年10月24日	共同出願
特開 2013-219515	測定装置及び測定方法	2013年10月24日
特開 2013-215049	ワイヤレス給電装置およびワイヤレス送電システム	2013年10月17日
特開 2013-197985	信号発生装置および信号発生方法	2013年 9月30日
特開 2013-196324	電源装置、それを用いた試験装置、電源電圧の制御方法	2013年 9月30日
特開 2013-197988	無線通信装置および無線通信システム	2013年 9月30日
特開 2013-190418	パターン検査装置及びパターン検査方法	2013年 9月26日
特開 2013-185892	ソケット、ソケットボード、電子部品試験装置	2013年 9月19日
特開 2013-187962	ワイヤレス受電装置、ワイヤレス給電装置およびワイヤレス送電システム	2013年 9月19日

127 件中 16-30 件を表示

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2013-228241 2013-223003 2012-26036 2012-29130 2012-23180 2013-217765 2013-219299 2013-219515 2013-215049 2013-197985 2013-196324 2013-197988 2013-190418 2013-185892 2013-187962

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