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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第338位 127件
(2012年:第193位 230件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第163位 256件
(2012年:第199位 196件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-160610 | 接触圧力検出装置および接点圧力測定装置 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-157043 | 不良情報記憶装置および試験システム | 2013年 8月15日 | |
特開 2013-145194 | 検出装置および検出方法 | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-145140 | ハンドラ装置および試験装置 | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-145134 | ハンドラ装置および試験装置 | 2013年 7月25日 | |
再表 2011-151856 | 測定装置および測定方法 | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-145132 | ハンドラ装置、試験方法 | 2013年 7月25日 | |
特開 2013-140527 | 算出装置、測定装置、電子デバイス、プログラム、記憶媒体および算出方法 | 2013年 7月18日 | |
再表 2011-132226 | ピンカードおよびそれを用いた試験装置 | 2013年 7月18日 | |
再表 2011-132225 | ピンカードおよびそれを用いた試験装置 | 2013年 7月18日 | |
特開 2013-140075 | 試験回路および試験装置 | 2013年 7月18日 | |
特開 2013-138323 | 送信システム、受信システム、送信方法、および受信方法 | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-137284 | 電子部品移載装置、電子部品ハンドリング装置、及び電子部品試験装置 | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-137286 | 電子部品試験装置 | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-137285 | ピッチ変更装置、電子部品ハンドリング装置、及び電子部品試験装置 | 2013年 7月11日 |
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2013-160610 2013-157043 2013-145194 2013-145140 2013-145134 2011-151856 2013-145132 2013-140527 2011-132226 2011-132225 2013-140075 2013-138323 2013-137284 2013-137286 2013-137285
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
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