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株式会社アドバンテスト

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　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第338位　127件（2012年：第193位　230件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第163位　256件（2012年：第199位　196件）

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
再表 2011-125191	プローブ及びその製造方法	2013年 7月 8日
再表 2011-121658	可変イコライザ回路およびそれを用いた試験装置	2013年 7月 4日
特開 2013-131838	Ｄ／Ａコンバータシステムおよびそれを用いた試験装置	2013年 7月 4日
特表 2013-524743	ワイヤレス受電装置およびワイヤレス給電システム	2013年 6月17日
再表 2011-104806	ステージ装置	2013年 6月17日
特開 2013-113663	試験モジュール生成装置、試験手順生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置	2013年 6月10日
特開 2013-113665	試験パターン生成装置、試験プログラム生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置	2013年 6月10日
特開 2013-108764	滑沢剤の展延解析装置、方法、プログラム、記録媒体	2013年 6月 6日
特開 2013-104833	試験用キャリア	2013年 5月30日
特開 2013-106490	ワイヤレス給電装置およびワイヤレス給電システムならびに電力信号の送信方法	2013年 5月30日
特開 2013-104835	試験用キャリア及び試験用キャリアの組立方法	2013年 5月30日
特開 2013-104834	試験用キャリア	2013年 5月30日
特開 2013-102074	半導体装置の製造方法及び半導体製造装置	2013年 5月23日
特開 2013-98599	ドライバ回路および試験装置	2013年 5月20日
特開 2013-92440	パターン測定装置及びパターン測定方法	2013年 5月16日

127 件中 61-75 件を表示

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2011-125191 2011-121658 2013-131838 2013-524743 2011-104806 2013-113663 2013-113665 2013-108764 2013-104833 2013-106490 2013-104835 2013-104834 2013-102074 2013-98599 2013-92440

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