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株式会社アドバンテスト

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　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第338位　127件（2012年：第193位　230件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第163位　256件（2012年：第199位　196件）

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
再表 2011-45890	受光装置、受光装置の製造方法、および受光方法	2013年 3月 4日
再表 2011-45832	差動ドライバ回路およびそれを用いた試験装置	2013年 3月 4日
再表 2011-45830	多値ドライバ回路ならびにそれを用いたシングルエンド出力ドライバ回路、差動出力ドライバ回路および試験装置	2013年 3月 4日
再表 2011-40350	電磁波測定装置	2013年 2月28日
特開 2013-41969	半導体装置、半導体装置の製造方法、および試験装置	2013年 2月28日
再表 2011-36718	プローブ装置および試験装置	2013年 2月14日
再表 2011-33691	測定回路および電子デバイス	2013年 2月 7日
再表 2011-33589	試験装置および試験方法	2013年 2月 7日
再表 2011-33588	試験装置および試験方法	2013年 2月 7日
再表 2011-33564	プローブ回路、マルチプローブ回路、試験装置、および電子デバイス	2013年 2月 7日
再表 2011-30877	収容具、収容具配置方法および測定方法	2013年 2月 7日
特開 2013-30273	スイッチ装置	2013年 2月 7日
特開 2013-26145	コネクタ及び半導体試験装置	2013年 2月 4日	共同出願
再表 2011-30379	通電部材、接続部材、試験装置および接続部材を修繕する方法	2013年 2月 4日
特開 2013-26195	スイッチ装置、スイッチ装置の製造方法、伝送路切替装置、および試験装置	2013年 2月 4日

127 件中 91-105 件を表示

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2011-45890 2011-45832 2011-45830 2011-40350 2013-41969 2011-36718 2011-33691 2011-33589 2011-33588 2011-33564 2011-30877 2013-30273 2013-26145 2011-30379 2013-26195

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