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株式会社アドバンテスト

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  2013年 出願公開件数ランキング    第338位 127件 下降2012年:第193位 230件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第163位 256件 上昇2012年:第199位 196件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2013-24704 電磁波出力装置、方法、プログラム、記録媒体および核磁気共鳴分析装置 2013年 2月 4日
再表 2011-30379 通電部材、接続部材、試験装置および接続部材を修繕する方法 2013年 2月 4日
特開 2013-26195 スイッチ装置、スイッチ装置の製造方法、伝送路切替装置、および試験装置 2013年 2月 4日
特開 2013-26854 スイッチモジュールおよびそれを用いた試験装置 2013年 2月 4日
特開 2013-20920 ケーブルアッセンブリ、コネクタ及び半導体試験装置 2013年 1月31日 共同出願
特開 2013-19843 電子部品試験装置および固定装置 2013年 1月31日
再表 2011-27392 試験装置、試験方法およびプログラム 2013年 1月31日
特開 2013-21790 スイッチング電源の制御回路および制御方法、ならびにそれらを用いた試験装置 2013年 1月31日
再表 2011-24394 変調された被試験信号の試験装置および試験方法 2013年 1月24日
再表 2011-24303 プローブ、プローブカード及び電子部品試験装置 2013年 1月24日
再表 2011-18818 差動型SRフリップフロップおよびそれを用いた試験装置 2013年 1月17日
特開 2013-7710 試験装置および試験方法 2013年 1月10日
特開 2013-7616 信号測定装置、信号測定方法、プログラム、記録媒体 2013年 1月10日
再表 2011-16097 ウエハトレイおよび試験装置 2013年 1月10日
特開 2013-7910 光デバイスまたは光変調装置 2013年 1月10日

127 件中 106-120 件を表示

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2013-24704 2011-30379 2013-26195 2013-26854 2013-20920 2013-19843 2011-27392 2013-21790 2011-24394 2011-24303 2011-18818 2013-7710 2013-7616 2011-16097 2013-7910

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