株式会社堀場製作所
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第528位 66件
（
2011年：第676位 49件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第557位 60件
（
2011年：第494位 65件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社堀場製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5005768 | 真空ポンプの始動時における粒子カウンタでの圧力パルスの低減を可能にするバルブを有する固体粒子計数システム | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5005461 | 分析装置 | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5009318 | イオン選択性電極 | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5005535 | ドライビングレコーダ | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5002564 | 粒子物性測定装置 | 2012年 8月15日 | |
| 特許 4996116 | 欠陥検査装置 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4988541 | ノズル装置及び液体試料分析装置 | 2012年 8月 1日 | |
| 特許 4982674 | Ｘ線発生器 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4956178 | 粒子状物質測定方法及び装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4950792 | 分析装置 | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4944859 | 粒子物性測定装置 | 2012年 6月 6日 | |
| 特許 4943923 | 水質分析装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4937455 | ＰＦＣ除害装置の状態モニタ | 2012年 5月23日 | |
| 特許 4932613 | 放射温度計 | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4917498 | 元素分析装置 | 2012年 4月18日 |
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5005768 5005461 5009318 5005535 5002564 4996116 4988541 4982674 4956178 4950792 4944859 4943923 4937455 4932613 4917498
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