株式会社リガク
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第1563位 15件
（
2010年：第1215位 24件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第903位 30件
（2010年：第735位 33件）
（ランキング更新日：2025年2月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4685877 | 微結晶粒の方位分布測定方法及びその装置 | 2011年 5月18日 | |
| 特許 4681018 | 全反射蛍光Ｘ線分析装置 | 2011年 5月11日 | |
| 特許 4669428 | Ｘ線管 | 2011年 4月13日 | |
| 特許 4669004 | 縦横小角Ｘ線散乱装置及び小角Ｘ線散乱の測定方法 | 2011年 4月13日 | |
| 特許 4662355 | Ｘ線管用フィラメント及びＸ線管 | 2011年 3月30日 | |
| 特許 4662370 | Ｘ線回折測定における角度補正方法及びＸ線回折装置 | 2011年 3月30日 | |
| 特許 4658003 | Ｘ線分析装置 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4657506 | Ｘ線分光方法及びＸ線分光装置 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4628241 | Ｘ線管 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4629552 | Ｘ線管用フィラメント及びＸ線管 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4629739 | 回転対陰極Ｘ線管の使用方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627710 | 分析装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4629158 | 蛍光Ｘ線分析方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4630313 | Ｘ線分析装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4615022 | 単結晶試料の極性判定方法及び装置 | 2011年 1月19日 |
30 件中 16-30 件を表示
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4685877 4681018 4669428 4669004 4662355 4662370 4658003 4657506 4628241 4629552 4629739 4627710 4629158 4630313 4615022
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2月19日(水) - 東京 港区
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月25日(火) -
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