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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第145位 368件
(2016年:第117位 374件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第139位 238件
(2016年:第147位 240件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6252906 | 開口パターンの設計方法、画像の復元方法および画像復元装置 | 2017年12月27日 | |
特許 6253440 | ベクトルデータ処理装置、画像記録システム、ベクトルデータ処理方法およびプログラム | 2017年12月27日 | |
特許 6254821 | 記録媒体加熱装置、及びそれを有するシステム | 2017年12月27日 | |
特許 6254877 | 触媒層形成方法および触媒層形成装置 | 2017年12月27日 | |
特許 6254896 | 画像信号生成装置、画像検査装置、印刷システム、および画像信号生成方法 | 2017年12月27日 | |
特許 6250415 | パターン描画装置およびパターン描画方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6250425 | 画像記録装置および画像記録方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6250973 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6251000 | 走査画像補正方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6251086 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2017年12月20日 | |
特許 6245545 | 検査装置および検査方法 | 2017年12月13日 | |
特許 6246602 | 基板処理装置 | 2017年12月13日 | |
特許 6246605 | 剥離装置および剥離方法 | 2017年12月13日 | |
特許 6246606 | 基板処理装置 | 2017年12月13日 | |
特許 6246642 | 位相差測定装置 | 2017年12月13日 |
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6252906 6253440 6254821 6254877 6254896 6250415 6250425 6250973 6251000 6251086 6245545 6246602 6246605 6246606 6246642
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