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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第2121位 11件
（
2016年：第801位 37件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第413位 64件
（
2016年：第419位 69件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6206027 | ハーフトーン型位相シフトマスクの監視方法およびハーフトーン型位相シフトマスク | 2017年10月 4日 | |
| 特許 6206194 | パターンマッチング方法、プログラム、およびパターン設計方法 | 2017年10月 4日 | |
| 特許 6201539 | メモリ | 2017年 9月27日 | |
| 特許 6197381 | 半導体装置とその製造方法 | 2017年 9月20日 | |
| 特許 6197422 | 半導体装置の製造方法および支持基板付きウェハ | 2017年 9月20日 | |
| 特許 6197510 | 半導体装置とその製造方法 | 2017年 9月20日 | |
| 特許 6194684 | 半導体装置の製造方法 | 2017年 9月13日 | |
| 特許 6194701 | 半導体装置の製造方法 | 2017年 9月13日 | |
| 特許 6191415 | 磁気抵抗素子の製造方法 | 2017年 9月 6日 | |
| 特許 6187061 | 半導体装置の製造方法 | 2017年 8月30日 | |
| 特許 6187184 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | 2017年 8月30日 | |
| 特許 6171835 | 検査装置、検査方法および検査プログラム | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6164027 | 半導体記憶装置 | 2017年 7月19日 | |
| 特許 6160360 | 電子デバイス及びその製造方法 | 2017年 7月12日 | |
| 特許 6163350 | 伝送回路、及び、信号送受信回路 | 2017年 7月12日 |
69 件中 16-30 件を表示
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6206027 6206194 6201539 6197381 6197422 6197510 6194684 6194701 6191415 6187061 6187184 6171835 6164027 6160360 6163350
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