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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-157321	デジタル顕微鏡法の画像強調スポットライト・モード	2013年 8月15日
特開 2013-152930	電界放出源の放出パラメータの決定	2013年 8月 8日
特開 2013-137994	誘導結合プラズマ源内に電極を取り付けるためのシステム	2013年 7月11日
特開 2013-138007	荷電粒子ビーム・システムにおけるドリフト制御	2013年 7月11日
特開 2013-138023	荷電粒子ビームシステムにおける同時の映像化と照射のためのリアルタイムモニタリング	2013年 7月11日
特開 2013-120750	選択可能なイオンを有する集束イオン・ビーム・カラム用の誘導結合プラズマ・イオン源	2013年 6月17日
特表 2013-524466	組合せレーザおよび荷電粒子ビーム・システム	2013年 6月17日
特開 2013-115047	分光分析用の電子ビーム源としての誘導結合プラズマ源	2013年 6月10日
特開 2013-101123	サンプル抽出および取り扱いのための方法および装置	2013年 5月23日
特開 2013-101930	荷電粒子エネルギー・フィルタ	2013年 5月23日
特開 2013-101929	荷電粒子ビーム・システムの絞り	2013年 5月23日
特開 2013-89594	誘導結合プラズマ源用の内部分割ファラデー・シールド	2013年 5月13日
特開 2013-63505	真空内における小構造物の局所的な改変	2013年 4月11日
特表 2013-510949	ビーム処理システムに対するガス送達	2013年 3月28日
特開 2013-33066	Ｓ／ＴＥＭのサンプルを作成する方法およびサンプル構造	2013年 2月14日

34 件中 16-30 件を表示

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2013-157321 2013-152930 2013-137994 2013-138007 2013-138023 2013-120750 2013-524466 2013-115047 2013-101123 2013-101930 2013-101929 2013-89594 2013-63505 2013-510949 2013-33066

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