ホーム > 特許ランキング > エフ・イ−・アイ・カンパニー > 2013年 > 特許一覧
エフ・イ−・アイ・カンパニー
※ ログインすれば出願人(エフ・イ−・アイ・カンパニー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第918位 34件
（
2012年：第2735位 7件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第2127位 10件
（
2012年：第1784位 13件）
（ランキング更新日：2025年3月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5371142 | マルチソース型のプラズマ集束イオン・ビーム・システム | 2013年12月18日 | |
| 特許 5350605 | サンプルの作製 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5337974 | 微小構造を修正するためのスタイラス・システム | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5301168 | 冷電界エミッタ | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5285036 | 小型の走査型電子顕微鏡 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5285833 | 微細構造を改修するためのシステム | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5266236 | サンプル抽出および取り扱いのための方法および装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5270558 | Ｓ／ＴＥＭのサンプルを作成する方法およびサンプル構造 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5139679 | 冷陰極イオン真空計 | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5112181 | 高解像度プラズマ・エッチング | 2013年 1月 9日 |
10 件中 1-10 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5371142 5350605 5337974 5301168 5285036 5285833 5266236 5270558 5139679 5112181
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ・イ−・アイ・カンパニーの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
3月24日(月) -
3月25日(火) - 東京 品川区
3月25日(火) -
3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月24日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒500-8368 岐阜県 岐阜市 宇佐3丁目4番3号 4-3,Usa 3-Chome, Gifu-City, 500-8368 JAPAN 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
新潟県新潟市東区新松崎３－２２－１５ ラフィネドミールⅡ-102 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟
埼玉県戸田市上戸田３－１３－１３ ガレージプラザ戸田公園Ａ－２ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
