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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6047126	荷電粒子ビーム・システム用の回路プローブ	2016年12月21日
特許 6033180	ＴＥＭ試料調製における低ｋＶＦＩＢミリングのドーズ量ベースの終点決定	2016年11月30日
特許 6012126	自動化されたＥＤＳ標準の較正	2016年10月25日
特許 5997153	荷電粒子検出器	2016年 9月28日
特許 5988570	選択可能な複数の粒子放出器を備える荷電粒子源	2016年 9月 7日
特許 5986027	レーザ・アブレーション中に光学構成部品を保護するシステム	2016年 9月 6日
特許 5973466	ＴＥＭ試料の調製	2016年 8月23日
特許 5959139	Ｓ／ＴＥＭのサンプルを分析する方法	2016年 8月 2日
特許 5959154	特徴部分をビューイングするための自動スライス・ミリング	2016年 8月 2日
特許 5954923	ガス支援レーザ・アブレーション	2016年 7月20日
特許 5925706	デジタル顕微鏡法の画像強調スポットライト・モード	2016年 5月25日
特許 5922125	低質量種と高質量種の両方を含むイオン源を使用した誘導および試料処理	2016年 5月24日
特許 5923228	誘導結合プラズマ・イオン源用のコンパクトなＲＦアンテナ	2016年 5月24日
特許 5882381	デコレーションを用いたスライス・アンド・ビュー	2016年 3月 9日
特許 5871440	走査共焦点電子顕微鏡のコントラストの向上	2016年 3月 1日

19 件中 1-15 件を表示

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6047126 6033180 6012126 5997153 5988570 5986027 5973466 5959139 5959154 5954923 5925706 5922125 5923228 5882381 5871440

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