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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第499位 67件
(2015年:第493位 68件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第600位 43件
(2015年:第799位 27件)
(ランキング更新日:2025年3月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2016-162669 | 分析装置、画像処理方法及びビームの軸合わせ方法 | 2016年 9月 5日 | |
特開 2016-151488 | 磁気共鳴測定装置 | 2016年 8月22日 | |
特開 2016-151494 | 磁気共鳴信号検出モジュール | 2016年 8月22日 | |
特開 2016-148571 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2016年 8月18日 | |
特開 2016-145747 | NMRプローブ | 2016年 8月12日 | |
特開 2016-142537 | NMRプローブ | 2016年 8月 8日 | |
特開 2016-143581 | 電子顕微鏡および収差測定方法 | 2016年 8月 8日 | |
特開 2016-138836 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2016年 8月 4日 | |
特開 2016-133339 | 質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-133475 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-134295 | 多極子レンズおよび荷電粒子ビーム装置 | 2016年 7月25日 | |
特開 2016-126955 | 電子検出装置および走査電子顕微鏡 | 2016年 7月11日 | |
特開 2016-110734 | 成膜方法および集束イオンビーム装置 | 2016年 6月20日 | |
特開 2016-110767 | 荷電粒子ビーム装置および画像取得方法 | 2016年 6月20日 | |
特開 2016-110878 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法 | 2016年 6月20日 |
69 件中 16-30 件を表示
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2016-162669 2016-151488 2016-151494 2016-148571 2016-145747 2016-142537 2016-143581 2016-138836 2016-133339 2016-133475 2016-134295 2016-126955 2016-110734 2016-110767 2016-110878
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