日本電子株式会社
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第499位 67件
（
2015年：第493位 68件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第600位 43件
（
2015年：第799位 27件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6054708 | 荷電粒子ビームの偏向装置及びそれを備えた荷電粒子ビーム装置 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6054715 | 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6054728 | 試料位置決め装置および荷電粒子線装置 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6054730 | 色収差補正装置および電子顕微鏡 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6054769 | 測定容器供給装置 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6054784 | 質量分析装置 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6045312 | 試料ホルダーおよび電子顕微鏡 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6045315 | 質量分析装置及び質量分析装置の調整方法 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6045365 | 撮像装置 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6045467 | 質量分析装置 | 2016年12月14日 | |
| 特許 6023640 | 大気圧イオン化方法および大気圧イオン源 | 2016年11月 9日 | |
| 特許 6019515 | ＮＭＲ用試料管およびＮＭＲ装置 | 2016年11月 2日 | |
| 特許 6009825 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6009947 | ナノ粒子製造装置 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6009963 | 試料分析方法および試料分析装置 | 2016年10月19日 |
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6054708 6054715 6054728 6054730 6054769 6054784 6045312 6045315 6045365 6045467 6023640 6019515 6009825 6009947 6009963
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