日本電子株式会社
※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第499位 67件
（
2015年：第493位 68件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第600位 43件
（
2015年：第799位 27件）
（ランキング更新日：2025年5月8日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2016-38210 | 制御装置、及び制御方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特開 2016-38708 | 画像処理装置、及び画像処理方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特開 2016-39118 | 電子顕微鏡、およびモノクロメーターの調整方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特開 2016-39119 | 電子顕微鏡、および電子顕微鏡の調整方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特開 2016-31271 | Ｘ線分光器の調整方法、Ｘ線分光器、および試料分析装置 | 2016年 3月 7日 | |
| 特開 2016-27552 | 試料導入方法、試料ステージ、および荷電粒子線装置 | 2016年 2月18日 | |
| 特開 2016-24900 | 放射線分析装置 | 2016年 2月 8日 | |
| 特開 2016-20871 | ライブタイム信号合成回路、ライブタイム信号合成方法、放射線検出装置、および試料分析装置 | 2016年 2月 4日 | |
| 特開 2016-4713 | 収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡 | 2016年 1月12日 |
69 件中 61-69 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2016-38210 2016-38708 2016-39118 2016-39119 2016-31271 2016-27552 2016-24900 2016-20871 2016-4713
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
オーブ国際特許事務所（東京都）－ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル５階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
〒541-0046 大阪市中央区平野町２丁目２番９号 ビル皿井２階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
埼玉県戸田市上戸田３－１３－１３ ガレージプラザ戸田公園Ａ－２ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
