日本電子株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第372位 91件
（
2021年：第446位 77件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第298位 101件
（
2021年：第250位 116件）
（ランキング更新日：2025年3月24日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7191764 | 気体浮上式搬送装置及び洗浄方法 | 2022年12月19日 | |
| 特許 7191786 | 自動分析装置 | 2022年12月19日 | |
| 特許 7191901 | 試料分析装置及び方法 | 2022年12月19日 | |
| 特許 7191902 | 試料分析装置及び方法 | 2022年12月19日 | |
| 特許 7181529 | 磁場発生装置及び核磁気共鳴装置 | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7181000 | 生物組織画像処理装置及び方法 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7181001 | 生物組織画像処理システム及び機械学習方法 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7181002 | 生物組織画像処理システム及び機械学習方法 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7181003 | 生物組織画像処理装置及び方法 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7181037 | 自動分析装置、および自動分析方法 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7181245 | 放射線検出器 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7166945 | 試薬ボトル収容ユニット及び自動分析装置 | 2022年11月 8日 | |
| 特許 7167037 | 自動分析装置および検体分注機構の異常検出方法 | 2022年11月 8日 | |
| 特許 7167100 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画装置の制御方法 | 2022年11月 8日 | |
| 特許 7167105 | マススペクトル処理装置及び方法 | 2022年11月 8日 |
105 件中 1-15 件を表示
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7191764 7191786 7191901 7191902 7181529 7181000 7181001 7181002 7181003 7181037 7181245 7166945 7167037 7167100 7167105
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