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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第1534位 16件
（
2018年：第1619位 14件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第886位 23件
（
2018年：第744位 29件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6478215 | 波形発生器及び波形発生方法 | 2019年 3月 6日 | |
| 特許 6467608 | マスク・トリガ処理方法、試験測定装置及び試験測定装置のためのプログラム | 2019年 2月13日 | |
| 特許 6466056 | 試験測定装置における領域横断型トリガ処理 | 2019年 2月 6日 | |
| 特許 6460623 | 試験測定装置、そのトリガ設定方法及び試験測定装置用プログラム | 2019年 1月30日 | |
| 特許 6454066 | 試験及び計測機器及び入力信号処理方法並びにそのためのコンピュータープログラム | 2019年 1月16日 | |
| 特許 6454145 | 試験測定システム及びその利得又は感度制御方法 | 2019年 1月16日 | |
| 特許 6454148 | 試験測定装置及び電気光学電圧アクセサリを用いる可変入力信号測定方法 | 2019年 1月16日 | |
| 特許 6454467 | 高帯域幅の半田なしリード及び測定システム | 2019年 1月16日 |
23 件中 16-23 件を表示
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6478215 6467608 6466056 6460623 6454066 6454145 6454148 6454467
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