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レーザーテック株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1332位 19件
（
2013年：第1304位 22件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1176位 23件
（2013年：第1098位 25件）
（ランキング更新日：2025年6月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-241357 | 基板保持装置、及び光学装置、及び基板保持方法 | 2014年12月25日 | |
| 特開 2014-238360 | 同期装置及び検査装置 | 2014年12月18日 | |
| 特開 2014-235365 | フォーカス制御方法、及び光学装置 | 2014年12月15日 | |
| 特開 2014-232743 | 光学装置、フィルタ、及びその製造方法 | 2014年12月11日 | |
| 特開 2014-222175 | 検査方法及び検査装置 | 2014年11月27日 | |
| 特開 2014-220495 | 異物除去装置 | 2014年11月20日 | |
| 特開 2014-215577 | 光源装置、検査装置、及び波長変換方法 | 2014年11月17日 | 共同出願 |
| 特開 2014-153326 | 検査装置、及び検査方法 | 2014年 8月25日 | |
| 特開 2014-137229 | 検査装置及び欠陥検査方法 | 2014年 7月28日 | |
| 特開 2014-135310 | チャック装置、及びチャック方法 | 2014年 7月24日 | |
| 特開 2014-99330 | 解析装置及び解析方法 | 2014年 5月29日 | |
| 特開 2014-89969 | 試験用リチウムイオン電池の観察治具 | 2014年 5月15日 | |
| 特開 2014-82021 | 観察用セル及びリチウムイオン電池観察システム | 2014年 5月 8日 | 共同出願 |
| 特開 2014-81227 | 検査装置、検査方法、パターン基板の製造方法 | 2014年 5月 8日 | |
| 特開 2014-62940 | 検査装置 | 2014年 4月10日 |
19 件中 1-15 件を表示
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2014-241357 2014-238360 2014-235365 2014-232743 2014-222175 2014-220495 2014-215577 2014-153326 2014-137229 2014-135310 2014-99330 2014-89969 2014-82021 2014-81227 2014-62940
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