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レーザーテック株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第2044位 11件
（
2018年：第1925位 11件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第2101位 7件
（
2018年：第2781位 5件）
（ランキング更新日：2025年5月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2019-158401 | 検査装置及び検査方法 | 2019年 9月19日 | |
| 特開 2019-158431 | 検査装置、検査方法及び反射型光学部材の加工方法 | 2019年 9月19日 | |
| 特開 2019-144069 | 検査装置及び検査方法 | 2019年 8月29日 | |
| 特開 2019-138714 | 照明方法、検査方法、照明装置及び検査装置 | 2019年 8月22日 | |
| 特開 2019-133044 | フォーカス検出方法及び共焦点顕微鏡 | 2019年 8月 8日 | |
| 特開 2019-124845 | 光源装置、検査装置、及び光源装置の制御方法 | 2019年 7月25日 | |
| 特開 2019-120506 | 検出方法、検査方法、検出装置及び検査装置 | 2019年 7月22日 | |
| 特開 2019-113492 | 段差測定方法及び段差測定装置 | 2019年 7月11日 | |
| 特開 2019-75290 | 異物検査システム及び異物検査方法 | 2019年 5月16日 | |
| 特開 2019-49433 | 膜厚測定方法及び膜厚測定装置 | 2019年 3月28日 | |
| 特開 2019-27915 | 検査方法及び検査装置 | 2019年 2月21日 |
11 件中 1-11 件を表示
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2019-158401 2019-158431 2019-144069 2019-138714 2019-133044 2019-124845 2019-120506 2019-113492 2019-75290 2019-49433 2019-27915
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