ホーム > 特許ランキング > レーザーテック株式会社 > 2016年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(レーザーテック株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第1667位 14件 (2015年:第1323位 19件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第1862位 10件 (2015年:第1281位 15件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2016-206171 | パターンの検査方法、マスクの検査方法、パターンの検査装置、マスクの検査装置、及びマスク | 2016年12月 8日 | |
特開 2016-197079 | 検査装置 | 2016年11月24日 | |
特開 2016-197318 | 検査装置、検査方法、及びプログラム | 2016年11月24日 | |
特開 2016-162195 | 画像処理装置、検査装置、画像処理方法、及びプログラム | 2016年 9月 5日 | |
特開 2016-118519 | 検査装置、及び検査方法 | 2016年 6月30日 | |
特開 2016-102776 | 検査装置、及び検査方法 | 2016年 6月 2日 | |
特開 2016-99615 | 照明装置及びレーザ顕微鏡 | 2016年 5月30日 | |
特開 2016-100541 | マスクステージ及びステージ装置 | 2016年 5月30日 | |
特開 2016-85045 | バンプ検査装置 | 2016年 5月19日 | |
特開 2016-80598 | 座標検出装置、検査装置、及び座標検出方法 | 2016年 5月16日 | |
特開 2016-62004 | 検査装置、及び波面収差補正方法 | 2016年 4月25日 | |
特開 2016-24042 | 検査装置及びオートフォーカス方法 | 2016年 2月 8日 | |
特開 2016-9826 | 撮像素子、検査装置、及び検査方法 | 2016年 1月18日 | |
特開 2016-1274 | レーザ顕微鏡及びスキャナー | 2016年 1月 7日 |
14 件中 1-14 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2016-206171 2016-197079 2016-197318 2016-162195 2016-118519 2016-102776 2016-99615 2016-100541 2016-85045 2016-80598 2016-62004 2016-24042 2016-9826 2016-1274
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。レーザーテック株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
東京都江戸川区西葛西3-13-2-501 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪市天王寺区上本町六丁目9番10号 青山ビル本館3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒451-6009 愛知県名古屋市西区牛島町6番1号 名古屋ルーセントタワー9階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング