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レーザーテック株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1833位 11件
（
2017年：第1148位 22件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第2779位 5件
（2017年：第1628位 11件）
（ランキング更新日：2026年10月16日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2018-204955 | 膜厚測定装置及び膜厚測定方法 | 2018年12月27日 | |
| 特開 2018-198293 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2018年12月13日 | |
| 特開 2018-189529 | 透過率測定方法及び透過率測定装置 | 2018年11月29日 | |
| 特開 2018-185457 | 共焦点顕微鏡、及び撮像方法 | 2018年11月22日 | |
| 特開 2018-181895 | 測定装置及び測定方法 | 2018年11月15日 | |
| 特開 2018-163075 | 補正方法、補正装置及び検査装置 | 2018年10月18日 | |
| 特開 2018-137270 | アライメント方法及びアライメント装置 | 2018年 8月30日 | |
| 特開 2018-119907 | 測定面調整方法、膜厚測定方法及び膜厚測定装置 | 2018年 8月 2日 | |
| 特開 2018-120000 | マスク取り出し方法及びマスク取り出し装置 | 2018年 8月 2日 | |
| 特開 2018-109714 | 光学装置、及び除振方法 | 2018年 7月12日 | |
| 特開 2018-21954 | 顕微鏡及び観察方法 | 2018年 2月 8日 |
11 件中 1-11 件を表示
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2018-204955 2018-198293 2018-189529 2018-185457 2018-181895 2018-163075 2018-137270 2018-119907 2018-120000 2018-109714 2018-21954
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