ホーム > 特許ランキング > レーザーテック株式会社 > 2026年の出願公開
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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第620位 38件
(
2025年:第861位 29件)
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第534位 37件
(
2025年:第1160位 17件)
(ランキング更新日:2026年10月29日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2026-171857 | 光源装置及び光源装置の制御方法 | 2026年10月23日 | |
| 特開 2026-169505 | 光学系 | 2026年10月20日 | |
| 特開 2026-165658 | 検査装置及び検査方法 | 2026年10月14日 | |
| 特開 2026-160702 | 測定装置及び測定装置の制御方法 | 2026年10月 8日 | |
| 特開 2026-157863 | 測定装置及び測定方法 | 2026年10月 7日 | |
| 特開 2026-157855 | 光源装置 | 2026年10月 7日 | |
| 特開 2026-148928 | 光源装置及び光源装置の制御方法 | 2026年 9月25日 | |
| 特開 2026-146331 | 光源装置 | 2026年 9月16日 | |
| 特開 2026-143956 | 光学装置及び光学装置の制御方法 | 2026年 9月 9日 | |
| 特開 2026-142077 | 測定装置及び測定方法 | 2026年 9月 7日 | |
| 特開 2026-138809 | 微分干渉観察装置及び微分干渉観察装置方法 | 2026年 8月31日 | |
| 特開 2026-134758 | 検査装置及び検査方法 | 2026年 8月21日 | |
| 特開 2026-133784 | 光学装置の較正方法、照明方法及び光学装置 | 2026年 8月20日 | |
| 特開 2026-125991 | 光源装置 | 2026年 8月 4日 | |
| 特開 2026-125990 | 光源装置 | 2026年 8月 4日 |
38 件中 1-15 件を表示
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2026-171857 2026-169505 2026-165658 2026-160702 2026-157863 2026-157855 2026-148928 2026-146331 2026-143956 2026-142077 2026-138809 2026-134758 2026-133784 2026-125991 2026-125990
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