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レーザーテック株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1332位 19件
（
2013年：第1304位 22件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1176位 23件
（2013年：第1098位 25件）
（ランキング更新日：2026年5月8日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5633099 | 欠陥分類方法及び検査装置 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5633836 | 照明装置、及び検査装置 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5622203 | 太陽電池セルの測定装置、及び測定方法 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5614759 | 検査装置 | 2014年10月29日 | |
| 特許 5610380 | ペリクル装着装置、ペリクル装着方法、及びパターン基板の製造方法 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5557228 | 検査分析装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557298 | 観察用セル及びリチウムイオン電池観察システム | 2014年 7月23日 | 共同出願 |
| 特許 5548848 | 検査装置、検査方法、及び半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5544663 | ＥＵＶマスク検査装置、ＥＵＶマスク検査方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5526370 | 照明光学系、照明方法、及び検査装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5517179 | 検査方法及び検査装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5481755 | 反り測定装置、及び反り測定方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5477976 | 厚さ測定装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5481750 | 太陽電池の評価装置、評価方法、及び製造方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5470542 | 太陽電池評価方法及び太陽電池評価システム | 2014年 4月16日 |
23 件中 1-15 件を表示
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5633099 5633836 5622203 5614759 5610380 5557228 5557298 5548848 5544663 5526370 5517179 5481755 5477976 5481750 5470542
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