ホーム > 特許ランキング > レーザーテック株式会社 > 2014年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(レーザーテック株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1332位 19件 (2013年:第1304位 22件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1176位 23件 (2013年:第1098位 25件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5633099 | 欠陥分類方法及び検査装置 | 2014年12月 3日 | |
特許 5633836 | 照明装置、及び検査装置 | 2014年12月 3日 | |
特許 5622203 | 太陽電池セルの測定装置、及び測定方法 | 2014年11月12日 | |
特許 5614759 | 検査装置 | 2014年10月29日 | |
特許 5610380 | ペリクル装着装置、ペリクル装着方法、及びパターン基板の製造方法 | 2014年10月22日 | |
特許 5557228 | 検査分析装置 | 2014年 7月23日 | |
特許 5557298 | 観察用セル及びリチウムイオン電池観察システム | 2014年 7月23日 | 共同出願 |
特許 5548848 | 検査装置、検査方法、及び半導体装置の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
特許 5544663 | EUVマスク検査装置、EUVマスク検査方法 | 2014年 7月 9日 | |
特許 5526370 | 照明光学系、照明方法、及び検査装置 | 2014年 6月18日 | |
特許 5517179 | 検査方法及び検査装置 | 2014年 6月11日 | |
特許 5481755 | 反り測定装置、及び反り測定方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5477976 | 厚さ測定装置 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481750 | 太陽電池の評価装置、評価方法、及び製造方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5470542 | 太陽電池評価方法及び太陽電池評価システム | 2014年 4月16日 |
23 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5633099 5633836 5622203 5614759 5610380 5557228 5557298 5548848 5544663 5526370 5517179 5481755 5477976 5481750 5470542
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。レーザーテック株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
神奈川県横浜市港北区日吉本町1-4-5パレスMR201号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒152-0034 東京都目黒区緑が丘一丁目16番7号 意匠 商標 外国商標 訴訟 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定