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レーザーテック株式会社

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　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第1148位　22件（2016年：第1633位　14件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第1628位　11件（2016年：第1861位　10件）

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レーザーテック株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2017-223456	測定装置、測定方法及び補正方法	2017年12月21日
特開 2017-215546	共焦点顕微鏡	2017年12月 7日
特開 2017-212163	評価システム及び固定治具	2017年11月30日
特開 2017-198814	光源装置、検査装置及び光源装置の制御方法	2017年11月 2日
特開 2017-198491	膜厚測定装置及び膜厚測定方法	2017年11月 2日
特開 2017-187547	ＥＵＶマスク検査装置、及びフォーカス調整方法	2017年10月12日
特開 2017-173592	レーザ顕微鏡	2017年 9月28日
特開 2017-173575	対物レンズ用冷却装置、対物レンズの冷却方法及び顕微鏡	2017年 9月28日
特開 2017-156545	検査装置、及びそのフォーカス調整方法	2017年 9月 7日
特開 2017-151282	光源装置、検査装置、及び光源装置の制御方法	2017年 8月31日
特開 2017-142445	マスク検査装置及びマスク検査方法	2017年 8月17日
特開 2017-142211	マスク検査装置及びマスク検査方法	2017年 8月17日
特開 2017-138246	検査装置、検査方法、及びイメージセンサ	2017年 8月10日
特開 2017-134308	検査装置、検査方法、汚染防止構造及び露光装置	2017年 8月 3日
特開 2017-125685	厚さ測定装置及び厚さ分布測定装置	2017年 7月20日

22 件中 1-15 件を表示

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2017-223456 2017-215546 2017-212163 2017-198814 2017-198491 2017-187547 2017-173592 2017-173575 2017-156545 2017-151282 2017-142445 2017-142211 2017-138246 2017-134308 2017-125685

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