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株式会社ブイ・テクノロジー
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第2343位 9件
（
2022年：第964位 27件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1732位 11件
（2022年：第1537位 13件）
（ランキング更新日：2024年11月11日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ブイ・テクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2023-167995 | 試験回路、および半導体試験装置 | 2023年11月24日 | |
| 特開 2023-160543 | 反射型マスクブランクの製造方法、反射型マスクブランク、および集束イオンビーム加工装置 | 2023年11月 2日 | |
| 特開 2023-153432 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2023年10月18日 | |
| 特開 2023-153433 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2023年10月18日 | |
| 特開 2023-131583 | レーザアニール装置およびレーザアニール方法 | 2023年 9月22日 | |
| 特開 2023-113092 | 光検査装置及び光検査方法 | 2023年 8月15日 | |
| 特開 2023-107415 | テンション計測装置及びテンション計測方法 | 2023年 8月 3日 | |
| 特開 2023-103783 | 半導体試験装置 | 2023年 7月27日 | |
| 特開 2023-14664 | 集束イオンビーム装置 | 2023年 1月31日 |
9 件中 1-9 件を表示
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2023-167995 2023-160543 2023-153432 2023-153433 2023-131583 2023-113092 2023-107415 2023-103783 2023-14664
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