株式会社日立製作所
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第15位 1835件
（
2015年：第18位 1801件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第14位 1624件
（2015年：第17位 1240件）
（ランキング更新日：2025年4月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6051092 | 列車制御システム | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051093 | 暗号通信システム | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051099 | クラウドシステムを利用したソフトウェア利用方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051142 | 真空バルブ用電気接点およびその製造方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051228 | 計算機システム、ストレージ管理計算機及びストレージ管理方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051233 | 計算機システム、管理計算機及び管理方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051293 | 発電システム | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051296 | 高分子材料の耐候性評価方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051308 | 固液分離装置、及びその方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051311 | 異常診断方法、及びその装置 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051318 | リチウムイオン二次電池用負極材料及びその製造方法、リチウムイオン二次電池用負極及びその製造方法並びにリチウムイオン二次電池 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6051596 | 干渉電子顕微鏡 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6052934 | 半導体検査方法、半導体検査装置、および半導体素子の製造方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6053003 | 伝送システム、伝送装置、及び伝送方法 | 2016年12月27日 | |
| 特許 6053168 | 搬送経路計算システム | 2016年12月27日 |
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6051092 6051093 6051099 6051142 6051228 6051233 6051293 6051296 6051308 6051311 6051318 6051596 6052934 6053003 6053168
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