特許ランキング - 出願人詳細情報 -

キヤノン株式会社

※ ログインすれば出願人(キヤノン株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2022年出願公開件数ランキング　　　第2位　4616件（2021年：第1位　6299件）

　■　2022年特許取得件数ランキング　　　第3位　3561件（2021年：第2位　3141件）

（ランキング更新日：2024年11月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2023年 2024年

キヤノン株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2022-187791	検体検査用偏光発光粒子	2022年12月20日
特開 2022-187800	撮像装置及びその制御方法、並びにプログラム	2022年12月20日
特開 2022-187809	トナー	2022年12月20日
特開 2022-187810	トナー	2022年12月20日
特開 2022-187831	計測装置、リソグラフィ装置及び物品の製造方法	2022年12月20日
特開 2022-187832	成形装置、成形方法及び物品の製造方法	2022年12月20日
特開 2022-187833	機械学習装置、その制御方法ならびにプログラム	2022年12月20日
特開 2022-187834	印刷制御システム、印刷制御方法、印刷制御装置とプログラム	2022年12月20日
特開 2022-187840	トナー	2022年12月20日
特開 2022-187866	光電変換装置、光電変換システム、移動体	2022年12月20日
特開 2022-187881	情報処理システム、情報処理システムの制御方法、及びプログラム	2022年12月20日
特開 2022-187887	情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及びプログラム	2022年12月20日
特開 2022-187913	表示装置、撮像装置、表示装置の制御方法、プログラム、および記録媒体	2022年12月20日
特開 2022-187939	偏光異方性の測定に基づく標的物質の検出、測定方法およびそのための粒子	2022年12月20日
特開 2022-187940	粒子およびその製造方法	2022年12月20日

4621 件中 136-150 件を表示

... 10

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2022-187791 2022-187800 2022-187809 2022-187810 2022-187831 2022-187832 2022-187833 2022-187834 2022-187840 2022-187866 2022-187881 2022-187887 2022-187913 2022-187939 2022-187940

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。キヤノン株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数