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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第549位 56件
(
2022年:第793位 34件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第478位 58件
(
2022年:第767位 32件)
(ランキング更新日:2025年12月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7245924 | 保守装置、保守方法、および、保守プログラム | 2023年 3月24日 | |
| 特許 7240869 | センサ試験システム | 2023年 3月16日 | |
| 特許 7240947 | 光学試験用装置 | 2023年 3月16日 | |
| 特許 7240992 | 製造装置および製造方法 | 2023年 3月16日 | |
| 特許 7240995 | ファントムおよび蛍光検出装置 | 2023年 3月16日 | |
| 特許 7227048 | 半導体装置 | 2023年 2月21日 | |
| 特許 7227049 | 光音響波測定装置 | 2023年 2月21日 | |
| 特許 7219045 | 解析装置、解析方法および解析プログラム | 2023年 2月 7日 | |
| 特許 7219046 | 解析装置、解析方法および解析プログラム | 2023年 2月 7日 | |
| 特許 7217204 | 信号処理装置および信号処理方法 | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7217222 | レーザ光出力装置 | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7217293 | 1または複数の被テストデバイスをテストするための自動テスト装置、および、自動テスト装置を操作するための方法 | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7209610 | 光学試験用装置および光学測定器具の試験方法 | 2023年 1月20日 |
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7245924 7240869 7240947 7240992 7240995 7227048 7227049 7219045 7219046 7217204 7217222 7217293 7209610
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12月16日(火) - 東京 千代田区
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【大阪会場】 前田知財塾 ~スキルアップ編~ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く! 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) - 神奈川 川崎市
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