特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー・コーポレーション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー・コーポレーション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2014年出願公開件数ランキング　　　第2128位　10件（2013年：第1902位　13件）

　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第907位　32件（2013年：第2127位　10件）

（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

ケーエルエー−テンカー・コーポレーションの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特許 5639042	その場差分光法	2014年12月10日
特許 5639169	暗視野検査システムおよび暗視野検査システムを構成する方法	2014年12月10日
特許 5635987	基板の表面の計測特性を評価するシステムおよび方法	2014年12月 3日
特許 5634864	リソグラフィック・プロセスに於ける、プロセス制御方法およびプロセス制御装置	2014年12月 3日
特許 5634989	対物光学系および試料検査装置	2014年12月 3日
特許 5635011	光散乱計測ターゲット設計の最適化	2014年12月 3日
特許 5624660	検査レシピ作成システムおよびその方法	2014年11月12日
特許 5624326	ウェーハ上に形成されたアレイ領域のための検査領域のエッジを正確に識別する方法、及び、ウェーハ上に形成されたアレイ領域に検知された欠陥をビニングする方法	2014年11月12日
特許 5606313	ウエハの領域全体の半導体パラメータを予測するための装置および方法	2014年10月15日
特許 5602146	レチクル上の欠陥を検出する方法及びシステム	2014年10月 8日
特許 5599387	ウェハー上の欠陥を検出して検査結果を生成するシステム及び方法	2014年10月 1日
特許 5583766	時間的に変化する欠陥分類性能の監視のための方法、システムおよびコンピュータ可読媒体	2014年 9月 3日
特許 5584682	前方フィードと側方フィードの使用および計測セルの再使用によって改善された度量衡計測	2014年 9月 3日
特許 5579452	チャックを使用する基板処理方法および基板処理装置	2014年 8月27日
特許 5567008	検出アルゴリズムの１つ以上のパラメータの値を選択するために用いられる情報を生成する方法及びシステム	2014年 8月 6日

32 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

5639042 5639169 5635987 5634864 5634989 5635011 5624660 5624326 5606313 5602146 5599387 5583766 5584682 5579452 5567008

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー・コーポレーションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数