※ ログインすれば出願人(HOYA株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2015年 出願公開件数ランキング 第116位 393件
(2014年:第100位 441件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第115位 257件
(2014年:第108位 377件)
(ランキング更新日:2025年10月16日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5743920 | 微細パターンを有するガラス構造体の製造方法 | 2015年 7月 1日 | |
特許 5744159 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 | 2015年 7月 1日 | |
特許 5738654 | 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 | 2015年 6月24日 | |
特許 5738931 | フォトマスクブランク、フォトマスクおよびフォトマスクブランクの製造方法 | 2015年 6月24日 | |
特許 5739552 | 磁気ディスク用ガラスブランクの製造方法および磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | 2015年 6月24日 | |
特許 5739642 | 原料供給装置、及び蒸着装置 | 2015年 6月24日 | |
特許 5734189 | 磁気記録媒体基板用ガラス、磁気記録媒体基板およびその製造方法、ならびに磁気記録媒体 | 2015年 6月17日 | |
特許 5734245 | 光学ガラス、プレス成形予備体および光学部品 | 2015年 6月17日 | |
特許 5734246 | 光学ガラス、プレス成形予備体および光学部品 | 2015年 6月17日 | |
特許 5734587 | 光学ガラス、精密プレス成形用プリフォーム、光学素子とそれら製造方法、ならびに撮像装置 | 2015年 6月17日 | |
特許 5735531 | 眼内移植片挿入器具 | 2015年 6月17日 | |
特許 5736236 | 内視鏡 | 2015年 6月17日 | |
特許 5736238 | 動作保護装置、動作保護ソフトウェア、及び動作保護方法 | 2015年 6月17日 | |
特許 5736258 | 内視鏡の光コネクタ装置 | 2015年 6月17日 | |
特許 5736615 | 基板の洗浄方法 | 2015年 6月17日 |
260 件中 106-120 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5743920 5744159 5738654 5738931 5739552 5739642 5734189 5734245 5734246 5734587 5735531 5736236 5736238 5736258 5736615
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。HOYA株式会社の知財の動向チェックに便利です。
10月16日(木) - 大阪 大阪市
10月16日(木) -
10月16日(木) -
10月16日(木) - 東京 新宿区
10月16日(木) -
10月17日(金) - 東京 千代田区
10月17日(金) - 神奈川 川崎市
10月17日(金) -
10月16日(木) - 大阪 大阪市
10月20日(月) -
10月21日(火) -
10月21日(火) - 東京 港区
10月21日(火) - 東京 港区
10月21日(火) -
10月21日(火) - 大阪 大阪市
10月21日(火) -
10月22日(水) - 東京 港区
10月22日(水) - 東京 品川
ビジネスの実務で役立つ技術契約の基礎知識と実例 ~秘密保持契約、共同研究開発、共同出願契約、製造委託契約、特許ライセンス契約~
10月22日(水) - 栃木 宇都宮市
10月23日(木) - 東京 港区
10月23日(木) -
10月24日(金) -
10月24日(金) -
10月24日(金) -
10月24日(金) - 東京 千代田区
10月24日(金) -
10月24日(金) -
10月24日(金) -
10月20日(月) -
東京都練馬区豊玉北6-11-3 長田ビル3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 鑑定 コンサルティング
〒104-0061 東京都中央区銀座1-8-2 銀座プルミエビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング