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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
(2019年:第177位 270件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
(2019年:第110位 254件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2020-41883 | 自動分析装置に用いる試薬搬送システム | 2020年 3月19日 | |
特開 2020-41929 | 自動分析装置 | 2020年 3月19日 | |
特開 2020-41968 | 電解質濃度測定装置 | 2020年 3月19日 | |
特開 2020-43100 | プラズマ処理装置 | 2020年 3月19日 | |
特開 2020-43266 | 半導体ウェハの欠陥観察システム及び欠陥観察方法 | 2020年 3月19日 | |
特開 2020-38063 | 分析装置 | 2020年 3月12日 | |
特開 2020-38233 | キャピラリ電気泳動装置 | 2020年 3月12日 | |
特開 2020-38997 | 真空処理装置 | 2020年 3月12日 | |
特開 2020-31557 | 生体分子分析装置 | 2020年 3月 5日 | |
特開 2020-34449 | 電解質濃度測定装置 | 2020年 3月 5日 | |
特開 2020-34693 | 凹面回折格子、及びその製造方法、並びに光学装置 | 2020年 3月 5日 | |
特開 2020-35282 | パターン検査システム | 2020年 3月 5日 | |
特開 2020-35753 | プラズマ処理装置 | 2020年 3月 5日 | |
再表 2018-189875 | 撮像装置および形態特徴データ表示方法 | 2020年 2月27日 | |
再表 2018-193605 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置における条件設定方法 | 2020年 2月27日 |
227 件中 181-195 件を表示
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2020-41883 2020-41929 2020-41968 2020-43100 2020-43266 2020-38063 2020-38233 2020-38997 2020-31557 2020-34449 2020-34693 2020-35282 2020-35753 2018-189875 2018-193605
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2月27日(木) - 東京 港区
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2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
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3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
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3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
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