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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第259位 138件
（
2021年：第126位 332件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第85位 351件
（
2021年：第118位 240件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7066914 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法並びにこれを備えた欠陥観察装置 | 2022年 5月13日 | |
| 特許 7065996 | 自動分析装置 | 2022年 5月12日 | |
| 特許 7064895 | プラズマ処理装置 | 2022年 5月11日 | |
| 特許 7065124 | 半導体装置の製造方法 | 2022年 5月11日 | |
| 特許 7065253 | 荷電粒子線装置 | 2022年 5月11日 | |
| 特許 7065254 | エッチング方法 | 2022年 5月11日 | |
| 特許 7062781 | 自動分析装置 | 2022年 5月 6日 | |
| 特許 7062796 | 自動分析装置 | 2022年 5月 6日 | |
| 特許 7062834 | 自動分析装置 | 2022年 5月 6日 | |
| 特許 7062016 | 検体処理システム | 2022年 5月 2日 | |
| 特許 7062081 | 放射線分析装置 | 2022年 5月 2日 | |
| 特許 7061525 | 化学分析装置 | 2022年 4月28日 | |
| 特許 7061626 | 検体処理システム | 2022年 4月28日 | |
| 特許 7061686 | 自動分析装置 | 2022年 4月28日 | |
| 特許 7061695 | 多段連結多極子、多段多極子ユニット、及び荷電粒子線装置 | 2022年 4月28日 |
351 件中 211-225 件を表示
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7066914 7065996 7064895 7065124 7065253 7065254 7062781 7062796 7062834 7062016 7062081 7061525 7061626 7061686 7061695
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