特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日立ハイテクノロジーズ

※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2014年出願公開件数ランキング　　　第59位　659件（2013年：第59位　716件）

　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第54位　625件（2013年：第51位　717件）

（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-153179	検体分注処理装置および検体前処理装置	2014年 8月25日
特開 2014-153242	生体物質分析装置	2014年 8月25日
特開 2014-154854	真空処理装置のモジュール検査装置	2014年 8月25日
特開 2014-155360	リニアモータ及びそれを備えた可動ステージ並びに電子顕微鏡	2014年 8月25日
特開 2014-153061	液体クロマトグラフ用送液装置および液体クロマトグラフ装置	2014年 8月25日
特開 2014-154744	プラズマ処理装置	2014年 8月25日
特開 2014-149177	欠陥検査装置および欠陥検査方法	2014年 8月21日
特開 2014-149155	自動分析装置	2014年 8月21日
特開 2014-149923	荷電粒子線装置	2014年 8月21日
特開 2014-149919	イオンビーム装置および不純物ガスの除去方法	2014年 8月21日
特開 2014-149921	イオンビーム装置、および試料観察方法	2014年 8月21日
特開 2014-149920	ガス電界電離イオン源、および走査イオン顕微鏡	2014年 8月21日
特開 2014-149922	集束イオンビーム装置	2014年 8月21日
特開 2014-150160	プラズマ処理装置および試料台	2014年 8月21日
特開 2014-150202	試料の処理方法および試料処理装置	2014年 8月21日

659 件中 166-180 件を表示

... 12

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2014-153179 2014-153242 2014-154854 2014-155360 2014-153061 2014-154744 2014-149177 2014-149155 2014-149923 2014-149919 2014-149921 2014-149920 2014-149922 2014-150160 2014-150202

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数