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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-153179 | 検体分注処理装置および検体前処理装置 | 2014年 8月25日 | |
| 特開 2014-153242 | 生体物質分析装置 | 2014年 8月25日 | |
| 特開 2014-154854 | 真空処理装置のモジュール検査装置 | 2014年 8月25日 | |
| 特開 2014-155360 | リニアモータ及びそれを備えた可動ステージ並びに電子顕微鏡 | 2014年 8月25日 | |
| 特開 2014-153061 | 液体クロマトグラフ用送液装置および液体クロマトグラフ装置 | 2014年 8月25日 | |
| 特開 2014-154744 | プラズマ処理装置 | 2014年 8月25日 | |
| 特開 2014-149177 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-149155 | 自動分析装置 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-149923 | 荷電粒子線装置 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-149919 | イオンビーム装置および不純物ガスの除去方法 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-149921 | イオンビーム装置、および試料観察方法 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-149920 | ガス電界電離イオン源、および走査イオン顕微鏡 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-149922 | 集束イオンビーム装置 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-150160 | プラズマ処理装置および試料台 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-150202 | 試料の処理方法および試料処理装置 | 2014年 8月21日 |
659 件中 166-180 件を表示
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2014-153179 2014-153242 2014-154854 2014-155360 2014-153061 2014-154744 2014-149177 2014-149155 2014-149923 2014-149919 2014-149921 2014-149920 2014-149922 2014-150160 2014-150202
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