ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2013年 > 出願公開一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-254704 | 昇温脱離ガス分析装置及び試料支持板フォルダ | 2013年12月19日 | |
| 特開 2013-251218 | 質量分析装置 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-249545 | 成膜装置 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-251471 | プラズマエッチング方法及びプラズマエッチング装置 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-250106 | 計測方法、画像処理装置、及び荷電粒子線装置 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-251088 | 荷電粒子装置 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-251301 | 樹脂スタンパ製造装置 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-250104 | 寸法測定装置、及びコンピュータープログラム | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-251420 | 真空処理装置及び真空処理方法 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-250218 | 自動分析装置 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-251212 | 走査型電子顕微鏡および画像評価方法 | 2013年12月12日 | |
| 特開 2013-246090 | 自動分析装置及び前処理装置 | 2013年12月 9日 | |
| 特開 2013-246161 | 分光光度計及び分光測定方法 | 2013年12月 9日 | |
| 特開 2013-246162 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2013年12月 9日 | |
| 特開 2013-247040 | 有機ＥＬデバイス製造装置及び有機ＥＬデバイス製造方法 | 2013年12月 9日 |
716 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2013-254704 2013-251218 2013-249545 2013-251471 2013-250106 2013-251088 2013-251301 2013-250104 2013-251420 2013-250218 2013-251212 2013-246090 2013-246161 2013-246162 2013-247040
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
