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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第54位　625件（2013年：第51位　717件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-224831	欠陥検査方法及び欠陥検査装置	2014年12月 4日
特開 2014-225362	集束イオンビーム装置、集束イオンビーム装置を用いた試料加工方法、及び試料加工プログラム	2014年12月 4日
特開 2014-225352	荷電粒子線装置、サンプルホルダ、荷電粒子線装置設計方法	2014年12月 4日
特開 2014-222165	信号パルス検出装置、質量分析装置、および信号パルス検出方法	2014年11月27日
特開 2014-219422	自動分析装置	2014年11月20日
特開 2014-220360	プラズマ処理方法	2014年11月20日
特開 2014-219246	電解質濃度測定装置およびそれを用いた測定方法	2014年11月20日
特開 2014-219228	自動分析装置	2014年11月20日
特開 2014-216207	荷電粒子線装置	2014年11月17日
特開 2014-216213	荷電粒子顕微鏡装置および荷電粒子顕微鏡装置の画像取得方法	2014年11月17日
特開 2014-215125	高圧力定流量ポンプ及び高圧力定流量送液方法	2014年11月17日
特開 2014-216182	電子銃、荷電粒子銃およびそれらを用いた荷電粒子線装置	2014年11月17日
特開 2014-215123	充填装置、方法、及び分析装置	2014年11月17日
特開 2014-216183	半導体検査装置、及び検査方法	2014年11月17日
特開 2014-216331	プラズマエッチング方法	2014年11月17日

659 件中 31-45 件を表示

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2014-224831 2014-225362 2014-225352 2014-222165 2014-219422 2014-220360 2014-219246 2014-219228 2014-216207 2014-216213 2014-215125 2014-216182 2014-215123 2014-216183 2014-216331

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