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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
(2013年:第59位 716件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
(2013年:第51位 717件)
(ランキング更新日:2025年2月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-42905 | 液体混合装置及び液体クロマトグラフ | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44174 | 自動分析装置 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44134 | 欠陥検査方法及びそれを用いた装置 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44094 | 基板検査方法及び装置 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44046 | タブレット端末を用いた分析装置 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44976 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44967 | 走査電子顕微鏡および試料ホルダ | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44796 | 観察装置および光軸調整方法 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44794 | 電子線観察装置 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44961 | プラズマ処理装置 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-41060 | 電解質分析装置 | 2014年 3月 6日 | |
特開 2014-41840 | 荷電粒子線装置 | 2014年 3月 6日 | |
特開 2014-41734 | 複合荷電粒子線装置 | 2014年 3月 6日 | |
特開 2014-41733 | 荷電粒子線装置 | 2014年 3月 6日 | |
特開 2014-38055 | 分光光度計 | 2014年 2月27日 |
659 件中 496-510 件を表示
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2014-42905 2014-44174 2014-44134 2014-44094 2014-44046 2014-44976 2014-44967 2014-44796 2014-44794 2014-44961 2014-41060 2014-41840 2014-41734 2014-41733 2014-38055
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2月25日(火) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
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3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
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3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
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