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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
(2013年:第59位 716件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
(2013年:第51位 717件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-26452 | 半導体の輪郭線データを広視野化する画像処理装置、及びコンピュータプログラム | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-26013 | 回折格子ホルダ、回折格子評価装置、および測定装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-25896 | データ処理装置及びそれを用いた自動分析装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-25816 | 自動分析装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-25815 | パターン測定装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-25812 | 自動分析装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-25763 | 欠陥検査方法、及び欠陥検査装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-25700 | パターン計測装置及び方法 | 2014年 2月 6日 | |
再表 2012-43261 | 検体検査自動化システムおよびその制御方法 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-26300 | ステージ装置及び試料搬送装置並びに位置決め制御方法 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-26521 | マッチング処理装置、マッチング処理方法、及びそれを用いた検査装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-26881 | 真空チャンバ機構 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-26840 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡用試料保持装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-26839 | 荷電粒子線装置 | 2014年 2月 6日 | |
特開 2014-26834 | 荷電粒子線応用装置 | 2014年 2月 6日 |
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2014-26452 2014-26013 2014-25896 2014-25816 2014-25815 2014-25812 2014-25763 2014-25700 2012-43261 2014-26300 2014-26521 2014-26881 2014-26840 2014-26839 2014-26834
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2月25日(火) -
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2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
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3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
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3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
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