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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-6236 | 微細パターンの断面形状測定方法及びその装置 | 2014年 1月16日 | |
| 特開 2014-6160 | 自動分析装置及び試料測定方法 | 2014年 1月16日 | |
| 特開 2014-6140 | 自動分析装置 | 2014年 1月16日 | |
| 特開 2014-6094 | 検出装置および生体試料分析装置 | 2014年 1月16日 | |
| 特開 2014-6316 | 露光装置 | 2014年 1月16日 | |
| 特開 2014-7032 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム | 2014年 1月16日 | |
| 特開 2014-7600 | ネットワーク装置、ネットワーク装置の制御方法及びネットワークシステム | 2014年 1月16日 | 共同出願 |
| 特開 2014-2037 | 原子吸光分析法及び原子吸光光度計 | 2014年 1月 9日 | |
| 特開 2014-2001 | 自動分析装置 | 2014年 1月 9日 | |
| 特開 2014-1927 | オーバーレイ誤差測定装置、及びコンピュータープログラム | 2014年 1月 9日 | |
| 特開 2014-1926 | 栓開閉装置および試料処理装置 | 2014年 1月 9日 | |
| 特開 2014-2830 | 磁気ディスクの検査方法および磁気ディスク検査装置 | 2014年 1月 9日 | |
| 特開 2014-2815 | 磁気記録媒体の検査装置及び検査方法 | 2014年 1月 9日 | |
| 特開 2014-2835 | 荷電粒子線装置 | 2014年 1月 9日 |
659 件中 646-659 件を表示
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2014-6236 2014-6160 2014-6140 2014-6094 2014-6316 2014-7032 2014-7600 2014-2037 2014-2001 2014-1927 2014-1926 2014-2830 2014-2815 2014-2835
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