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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第54位　625件（2013年：第51位　717件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-199198	磁気メディアの光学式検査装置及び光学式検査方法	2014年10月23日
特開 2014-199201	磁気ディスク検査装置および磁気ディスク検査方法	2014年10月23日
特開 2014-199197	ディスク表面検査方法及びその装置	2014年10月23日
特開 2014-199691	ディスク検査装置及びディスク検査方法	2014年10月23日
特開 2014-199692	ディスク表面検査装置およびディスク表面検査方法	2014年10月23日
特開 2014-199695	磁気ディスク検査方法及びその装置	2014年10月23日
特開 2014-199207	液体クロマトグラフ装置、液体クロマトグラフシステム、及び、それを用いた分析方法	2014年10月23日
特開 2014-199686	ディスク検査装置及びその検査方法	2014年10月23日
特開 2014-198525	トロリ線局部摩耗位置測定方法及び装置	2014年10月23日
特開 2014-198863	蒸発源及び真空蒸着装置及び有機ＥＬ表示装置の製造方法	2014年10月23日
特開 2014-198958	軌道検測方法及び装置	2014年10月23日
特開 2014-199196	ディスク表面検査方法及びその装置	2014年10月23日
特開 2014-199696	磁気リードライト検査方法及びその装置	2014年10月23日
特開 2014-199697	ディスク検査装置及びその方法	2014年10月23日
特開 2014-199694	ディスク表面検査方法及びその装置	2014年10月23日

659 件中 76-90 件を表示

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2014-199198 2014-199201 2014-199197 2014-199691 2014-199692 2014-199695 2014-199207 2014-199686 2014-198525 2014-198863 2014-198958 2014-199196 2014-199696 2014-199697 2014-199694

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