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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2024年11月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4845452 | 試料観察方法、及び荷電粒子線装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847685 | パターンサーチ方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845903 | ワークハンドリング装置及び部品搭載装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847848 | キャリアタンパク質に結合した分子の検出方法、検出キット及び検出装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847711 | 荷電粒子線装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4848310 | プローブ付き顕微鏡及びプローブ駆動方法 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4845816 | プラズマ処理装置 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4847900 | 走査型電子顕微鏡 | 2011年12月28日 | |
| 特許 4839276 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842648 | 試薬ボトル | 2011年12月21日 | |
| 特許 4843406 | キャピラリ電気泳動分析装置 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4839269 | 自動分析装置用反応セルの製造用電極、その電極を使用した製造方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4843399 | 検査装置及び検査方法 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4842533 | 不良検査装置 | 2011年12月21日 | |
| 特許 4843250 | 質量分析を用いた物質の同定方法 | 2011年12月21日 |
350 件中 1-15 件を表示
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4845452 4847685 4845903 4847848 4847711 4848310 4845816 4847900 4839276 4842648 4843406 4839269 4843399 4842533 4843250
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