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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2024年11月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4747370 | 磁気ヘッドローディング機構およびこれを用いる検査装置 | 2011年 8月17日 | |
| 特許 4746659 | 回路パターンの検査方法 | 2011年 8月10日 | |
| 特許 4742166 | 試料分析装置 | 2011年 8月10日 | |
| 特許 4741986 | 光学式検査方法および光学式検査装置 | 2011年 8月10日 | |
| 特許 4741936 | データ処理装置，検査作業支援システム、およびデータ処理方法 | 2011年 8月10日 | |
| 特許 4739656 | 残数管理付き部品供給管理システム | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4740705 | パターン欠陥検査装置 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4740668 | 荷電ビーム装置及びそのビーム軸の軸合わせ方法 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4734145 | 自動分析装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4732057 | プラズマ処理装置および処理方法 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4734149 | 自動分析装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4733959 | プローブ接触方法及び荷電粒子線装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4733154 | 異物検査方法及び異物検査装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4734148 | 試料観察方法，画像処理装置、及び荷電粒子線装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4734135 | 荷電粒子線装置、それに用いられるコンピュータプログラム、及び試料像観察方法 | 2011年 7月27日 |
350 件中 136-150 件を表示
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4747370 4746659 4742166 4741986 4741936 4739656 4740705 4740668 4734145 4732057 4734149 4733959 4733154 4734148 4734135
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