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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5331551 | 分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331198 | 光源装置及びそれを用いた分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331608 | 自動分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331622 | 露光装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5329119 | 液体クロマトグラフ装置用の分離カラム及びそれを用いた液体クロマトグラフ装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5330313 | 生体試料の分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331056 | 自動分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331669 | 電解質分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5330317 | 生体試料の分析方法および分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331893 | 走査荷電粒子線装置、及び色球面収差補正方法 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331780 | 電子顕微鏡，電子顕微鏡用画像再構成システム、および電子顕微鏡用画像再構成方法 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331830 | 電気化学測定用電極及び電気化学的分析装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331342 | イオンミリング装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331828 | 荷電粒子線装置 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5331073 | 電子線装置 | 2013年10月30日 |
717 件中 136-150 件を表示
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5331551 5331198 5331608 5331622 5329119 5330313 5331056 5331669 5330317 5331893 5331780 5331830 5331342 5331828 5331073
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