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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4732917 | 走査型電子顕微鏡及び欠陥検出装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4729594 | 自動分析装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729457 | 自動分析装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4728144 | 回路パターンの検査装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4726814 | 基板の位置決め装置及び位置決め方法 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4726686 | プロキシミティ露光装置のギャップ制御装置及びギャップ制御方法 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4728173 | 走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4728137 | 電子顕微鏡 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4723439 | 化学分析装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4723399 | 検査方法及び検査装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4723871 | ドライエッチング装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4723559 | プラズマ処理装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4723414 | 走査電子顕微鏡 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4723362 | 光学式検査装置及びその方法 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4719622 | 自動分析装置 | 2011年 7月 6日 |
350 件中 151-165 件を表示
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4732917 4729594 4729457 4728144 4726814 4726686 4728173 4728137 4723439 4723399 4723871 4723559 4723414 4723362 4719622
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